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Ces mesures jumelées à des observations optiques de la surface rayée forme une empreinte unique au système couche/substrat étudié.
Trescal présentera les dernières évolutions de son logiciel [[https://Sepmetrologie.com/importance-de-metrologie-industrielle/|l’importance de La métrologie dans la qualité industrielle]] gestion de parc métrologique, Adveso®.(Image: [[https://burst.shopifycdn.com/photos/palacio-de-bellas-artes-wide-shot.jpg?width=746&format=pjpg&exif=0&iptc=0|https://burst.shopifycdn.com/photos/palacio-de-bellas-artes-wide-shot.jpg?width=746&format=pjpg&exif=0&iptc=0]])
Cette solution innovante, clé en main est conçue pour piloter et optimiser l’activité métrologique des industriels.(Image: [[https://burst.shopifycdn.com/photos/museo-de-antropologia-water-structure.jpg?width=746&format=pjpg&exif=0&iptc=0|https://burst.shopifycdn.com/photos/museo-de-antropologia-water-structure.jpg?width=746&format=pjpg&exif=0&iptc=0]])
Les innovations du logiciel permettent désormais aux utilisateurs d’interfacer leurs systèmes d’informations (ERP/PGI, instrument de mesure connecté, etc.) avec Adveso®.
Cette évolution facilitera la collecte d’informations liées aux instruments rendant possible la gestion plus fine de leurs périodicités.
Une bille fixée à une tige pouvant se déplacer verticalement est pesée sur la surface à étudier pour une quantité fixe de rotations du disque.
La force tangentielle et le coefficient de friction sont mesurés et le volume de matériau peut ensuite être évalué.
Le LaRFIS est le tout premier laboratoire au monde équipé d'un Accessoire de Mesure Universel d'Agilent Technologies!
Installé sur un spectrophotomètre Cary 7000, ce système unique permet de mesurer la réflexion et la transmission pour des angles entre 6° et 85°, le tout sans devoir déplacer l'échantillon manuellement.
Ainsi, contrairement à d'autres systèmes de mesure classiques, l'UMA assure que le même endroit sur l'échantillon est sondé et ce, avec les mêmes propriétés du faisceau de mesure.
La sélectivité angulaire de ce système permet également d'effectuer des mesures de diffusivité sur des échantillons diffusifs.
Cette mission permet à nos clients de bénéficier d’une qualité optimale de leurs instruments de mesure tout en profitant de la gestion et de la planification du parc d’instruments à un coût concurrentiel.
Le Tencor FLX 2900 est un instrument permettant de mesurer le stress dans les couches minces.
Spécifiquement, le stress est obtenu en comparant le changement de courbure du substrat avec et sans couche mince en utilisant l’équation bien  connue de Stoney.
L'imagerie plasma par camera haute vitesse est une technique d'analyse de plasma complémentaire à la spectroscopie d'émission optique.
À l'aide d'une caméra CCD amplifiée à haute vitesse d'obturation, cette technique permet d'observer la dynamique d'émission de la lumière par des espèces excitées dans un plasma résolues dans le temps et dans l'espace.
Les développements récents, lors la dernière décennie, de revêtements intensifieurs et de camera CCD haute performance a permis de grandement d'améliorer les résolutions spatiale et temporelle.
Une représentation schématique d'un système de mesure de résistance de surface sans tương tác est présentée à la Figure 1.
En employant une cellule électrochimique à trois électrodes, il est possible de mesurer les propriétés de résistance à la corrosion des matériaux en appliquant les techniques de polarisation potentiostatique et potentiodynamique.
SEP Métrologie Inc. est une entreprise offrant des services en métrologie, se spécialisant dans les mesures dimensionnelles.
Nous offrons des services de formation, logiciel pour la gestion du parc des instruments et l’étalonnage d’instruments de mesure et d’essai de type dimensionnel.
SEP métrologie  s'occupe pour vous la gestion de votre parc d'instruments de mesure , nous effectuons l'étalonnage et la planification.